закрыть
Предзаказ на книгу
Осталось всего: 2
1 211
р.
Купить
Инженерные основы измерений нанометровой точности
Автор: Лич Р.
ISBN: 978-5-91559-119-5
Год издания: 2012
Формат книги: 60х90/16
Кол-во страниц: 400
Издательство: Интеллект
Тип обложки: Переплёт
Вес: 600 гр.
Описание
Книга известного специалиста Национальной Физической Лаборатории (NPL, Великобритания) последовательно рассматривает инженерные аспекты достижения нано метровой точности измерений перемещений и параметров рельефа поверхности, контроля параметров макрообъектов с помощью координатно-измерительных машин, различных зондовых, оптических и электронных средств измерений (включая вопросы обеспечения прослеживаемое измерений длины с помощью лазерной интерферометрии и калибровочных образцов). Также рассмотрены вопросы прецизионных измерений масс.
Для студентов и преподавателей технических университетов, специалистов промышленных предприятий, инженеров-разработчиков и исследователей
Для студентов и преподавателей технических университетов, специалистов промышленных предприятий, инженеров-разработчиков и исследователей
Близкие по теме
-
Осталось всего: 1
Автор: Гусев А.С.
Рубрика: Техника. Технические науки
ISBN: 978-5-7038-4010-8
Год издания: 2014
114 р.Купить -
Осталось всего: 1
Автор: Адаскин А.М., Зуев В.М.
Рубрика: Техника. Технические науки
ISBN: 978-5-911341-754-3
Год издания: 2014
655 р.Купить -
Осталось всего: 1
Автор: Муморцев А.Н., Фролов Е.А.
Рубрика: Техника. Технические науки
ISBN: 978-5-00091-022-1
Год издания: 2015
281 р.Купить -
Осталось всего: 1
Автор: Шарапов В., Шарапова Е.
Рубрика: Техника. Технические науки
ISBN: 5-94836-103-9
Год издания: 2006
290 р.Купить -
Осталось всего: 1
Автор: Шатов А.П., Стеклов О.И., Ступников В.П.
Рубрика: Учебные пособия. Профессиональное и специальное образование
ISBN: 978-5-7038-5315-3
Год издания: 2020
385 р.Купить -
Осталось всего: 2
Автор: Вакс Е.Д., Миленький М.Н., Сапрыкин Л.Г.
Рубрика: Физика
ISBN: 978-5-94836-339-4
Год издания: 2013
804 р.Купить