закрыть
Предзаказ на книгу
Осталось всего: 2
1 211
р.
Купить
Инженерные основы измерений нанометровой точности
Автор: Лич Р.
ISBN: 978-5-91559-119-5
Год издания: 2012
Формат книги: 60х90/16
Кол-во страниц: 400
Издательство: Интеллект
Тип обложки: Переплёт
Вес: 600 гр.
Описание
Книга известного специалиста Национальной Физической Лаборатории (NPL, Великобритания) последовательно рассматривает инженерные аспекты достижения нано метровой точности измерений перемещений и параметров рельефа поверхности, контроля параметров макрообъектов с помощью координатно-измерительных машин, различных зондовых, оптических и электронных средств измерений (включая вопросы обеспечения прослеживаемое измерений длины с помощью лазерной интерферометрии и калибровочных образцов). Также рассмотрены вопросы прецизионных измерений масс.
Для студентов и преподавателей технических университетов, специалистов промышленных предприятий, инженеров-разработчиков и исследователей
Для студентов и преподавателей технических университетов, специалистов промышленных предприятий, инженеров-разработчиков и исследователей
Близкие по теме
-
Автор: Гусев Б.В., Файвусович А.С.
Рубрика: Строительство
ISBN: 978-5-91522-378-2
Год издания: 2014
130 р.Купить -
Осталось всего: 3
Автор: Шолохов М.А.
Рубрика: Техника. Технические науки
ISBN: 978-5-7038-4325-3
Год издания: 2015
429 р.Купить -
Автор: Малинин С. Н.
Рубрика: Техника. Технические науки
ISBN: 978-5-87444-354-2
Год издания: 2016
494 р.Купить -
Осталось всего: 1
Автор: Зелёный П.В., Белякова Е.И.
Рубрика: Техника. Технические науки
ISBN: 978-5-16-005178-9
Год издания: 2012
510 р.Купить -
Автор: Кудашев Е.Б., Яблоник Л.Р.
Рубрика: Техника. Технические науки
ISBN: 978-589-176-463-7
Год издания: 2007
95 р.Купить -
Осталось всего: 1
Автор: Фостер Л.
Рубрика: Техника. Технические науки
ISBN: 978-5-94836-161-1
Год издания: 2008
352 р.Купить