закрыть
Предзаказ на книгу
Осталось всего: 2
1 211
р.
Купить
Инженерные основы измерений нанометровой точности
Автор: Лич Р.
ISBN: 978-5-91559-119-5
Год издания: 2012
Формат книги: 60х90/16
Кол-во страниц: 400
Издательство: Интеллект
Тип обложки: Переплёт
Вес: 600 гр.
Описание
Книга известного специалиста Национальной Физической Лаборатории (NPL, Великобритания) последовательно рассматривает инженерные аспекты достижения нано метровой точности измерений перемещений и параметров рельефа поверхности, контроля параметров макрообъектов с помощью координатно-измерительных машин, различных зондовых, оптических и электронных средств измерений (включая вопросы обеспечения прослеживаемое измерений длины с помощью лазерной интерферометрии и калибровочных образцов). Также рассмотрены вопросы прецизионных измерений масс.
Для студентов и преподавателей технических университетов, специалистов промышленных предприятий, инженеров-разработчиков и исследователей
Для студентов и преподавателей технических университетов, специалистов промышленных предприятий, инженеров-разработчиков и исследователей
Близкие по теме
-
Осталось всего: 1
Автор: Винаров А.Ю. и др.
Рубрика: Техника. Технические науки
ISBN: 1/1
Год издания: 1985
169 р.Купить -
Осталось всего: 1
Автор: Шиляев М.И.
Рубрика: Техника. Технические науки
ISBN: 978-5-91134-976-9
Год издания: 2015
728 р.Купить -
Осталось всего: 1
Автор: Васильева Л.С.
Рубрика: Техника. Технические науки
ISBN: 978-5-039130-7
Год издания: 2014
436 р.Купить -
Осталось всего: 1
Автор: Шарапов В., Шарапова Е.
Рубрика: Техника. Технические науки
ISBN: 5-94836-103-9
Год издания: 2006
290 р.Купить -
Осталось всего: 1
Автор: Бибило П.Н.
Рубрика: Техника. Технические науки
ISBN: 978-985-08-1322-0
Год издания: 2011
203 р.Купить -
Осталось всего: 1
Автор: Фостер Л.
Рубрика: Техника. Технические науки
ISBN: 978-5-94836-161-1
Год издания: 2008
352 р.Купить